實(shí)用可靠性設(shè)計技術(shù)
一、可靠性設(shè)計的基本概念和運(yùn)用
降額、簡化設(shè)計、冗余、容差、熱設(shè)計、可靠性預(yù)計、可靠性增長(RGT)
二、可靠性設(shè)計的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和實(shí)施步驟。
三、元器件的故障模式、影響及采用的對策
電子產(chǎn)品常見的失效
無源器件常見失效原因、壽命計算
電子器件常見失效原因、壽命評價方法
機(jī)電元件常見失效原因和對策
集成電路的主要故障特點(diǎn)及對策。
可編程器件的程序設(shè)計對可靠性的影響
靜電和閂鎖對電子產(chǎn)品的破壞和預(yù)防設(shè)計
四、整機(jī)設(shè)計規(guī)則
熱設(shè)計、版圖設(shè)計、接地和抗干擾、三防和防塵設(shè)計、結(jié)構(gòu)和防振設(shè)計、安全性設(shè)計
五、裝配、生產(chǎn)工藝對產(chǎn)品可靠性的影響
焊接、靜電防護(hù)、生產(chǎn)工序、PCB制備、離子污染、應(yīng)力釋放對產(chǎn)品可靠性的影響。
可靠性試驗(yàn)技術(shù)
六、設(shè)計人員需要了解的可靠性知識
可靠性基本知識、可靠性的發(fā)展方向、如何運(yùn)用可靠性的特征量、如何看MTBF
七、可靠性設(shè)計的評價(可靠性預(yù)計現(xiàn)狀、評價,新的評價思路,可靠性增長試驗(yàn))
八、環(huán)境試驗(yàn)對產(chǎn)品缺陷暴露的作用
1.相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
2.失效機(jī)理和環(huán)境的影響
3.如何設(shè)計試驗(yàn)條件
九、篩選、老化試驗(yàn)
1.篩選的作用和篩選度
2.篩選應(yīng)力的選擇
3.如何快速暴露產(chǎn)品缺陷(HALT)
4.高加速應(yīng)力篩選(HASS)介紹
5.環(huán)境試驗(yàn)的順序與分組
十、抽樣技術(shù)簡介
1.抽樣和驗(yàn)收風(fēng)險
2.如何建立抽樣方案
3.如何運(yùn)用抽樣的標(biāo)準(zhǔn) |